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電化學原子力顯微鏡EC-AFM原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。
掃描離子電導顯微鏡SICM屬于掃描探針顯微鏡，它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別于其他掃描探針顯微技術， SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息，并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。
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